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湿法单片兆声清洗头

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兆声清洗头

产品时间:2025-12-05 15:52:15

简要描述:

典型应用• 前 后 道 清 洗 (Particles < 20 nm to > 10 µm) • 刻蚀增强• Post CMP & polish 清洗• Pre-bond/Post De-Bond 清洗• Mask 清洗• Photoresist Develop/Strip/MLO• TSV/VIA 残余聚合物清除• 易碎MEMS清洗清洗性能→ 在与客户的对比中,证明其颗粒去除效率优于传统的刷子和喷嘴清洁方法→ MegPi...

详细介绍

典型应用

• 前道/后道清洗(颗粒尺寸 < 20 nm 至 > 10 µm)

• 蚀刻增强

• 化学机械抛光(CMP)后及平坦化(Polish)清洗

• 键合前后清洗

• 光掩膜清洗

• 光刻胶显影/剥离/材料损失控制

• 硅通孔/通孔(TSA/VIA)残留聚合物清洗

• 精密MEMS清洗

清洗性能

→ 经客户对比验证,相较于传统的刷洗和喷嘴清洗方法,该系统展现出更高的颗粒去除效率

→  MegPie®  系统可选配1 MHz、2 MHz 及 3 MHz 工作频率

MegPie® DNS系统成本对比

→ 无耗材 – 无需PM

→ 平均故障间隔时间(MTBF)超过20万小时,表现卓越

→ MegPie® 在DNS 80 A/B机型中以非接触式MegPie®替代刷洗单元,实现100%无痕清洗

Post-CMP测试结果对比

MegPie®

98 % PRE

Brush

89% PRE

Binary Nozzle

76 % PRE


4.png

 


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